Description
146031-01
146031-01借助 NI PXIe-6544/45 模块,工程师现在可以准确、自动地测试速度更快的半导体器件,例如模数转换器 (ADC)、数模转换器 (DAC)、存储器件、ASIC 和微控制器。例如,测试 200 MS/s DAC 之前需要高速模式发生器、示波器和电源。借助新型 NI PXIe-6545 发生器/分析仪和 NI PXIe-1082 机箱,工程师可以使用紧凑的软件定义模块化仪器执行表征和生产测试。这种方法使工程师能够以编程方式选择 1.2、1.5、1.8、2.5 或 3.3 V 电压,从而提供了更大的灵活性
146031-01独立配置 32 个通道中的每一个通道的输入或输出;并使用高分辨率板载时钟进行亚赫兹频率选择。新型高速 PXI Express 数字仪器和高带宽机箱的数据吞吐能力也非常适合测试许多多媒体设备,包括 60 Hz 时高达 1080p 的 HDTV 信号、LCD 屏幕、RF 基带设备和 HD 无线电。 NI PXIe-6544/45 模块具有增强的定时和同步功能,例如板载直接数字合成 (DDS) 时钟,可提供从 DC 到 200 MHz 的亚赫兹分辨率。这有助于工程师在不使用外部时钟的情况下以更高分辨率生成和采集时钟数据,从而无需额外的高分辨率时钟设备和外部定时电缆。
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